渐变、低效元件难于检测的原因和检测方法的问题：
此类渐变和低效元件的难于检测，主要由两个原因造成：

1、检测工具的局限。

　　最常用检测工具为数字和指针式万用表，高电压和大电流，不能由万用表提供，对有些器件，如直流回路的储能电容电级引线电阻的出现，须在高电压和大电流的状态下进行检测，才能得出结论。电容表和万用表确实对此无能为力。

2、检测方法的问题。

　　检测元器件，往往进行单一性的检测，如仅仅检测元件引脚电阻，或仅仅检测在线电压；或习惯用一只表检测其好坏。

　　应该拓展检测手段和检测方法。如对逆变模块和高耐压元件的检测，可利用耐压测试仪或借用绝缘摇表，对元件进行电压击穿测试。寥老师也在本论坛帖子中谈到用数字万用表、指针万用表、电容表和晶体管耐压（特性）测试仪四种测试工具，对逆变模块进行综合性能的测试，确实是一个好方法，值得借鉴。

　　如检测光耦器件，可从线路板上拆下，用一只指针式万用表的x10k挡测试输入侧正向电阻（同时提供正向导通电流），用一只万用表，同时测试输出侧三极管的导通电阻，将测试结果与好的同型号光耦器件相对照，则不难检测出低效元件。或者干脆用外加电源，为光耦送入输入10mA电流，对比测试其输出电阻，则更易得出正确的判断。

　　总之，要采用灵活多样的测试手段和检测方法，强化自己的检测能力和提高检测的准确度，使“伪好元件”暴露出来。要练好你的“内功”啊！